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SN74BCT8244ANT集成電路(IC)的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

廠商型號(hào) |
SN74BCT8244ANT |
參數(shù)屬性 | SN74BCT8244ANT 封裝/外殼為24-DIP(0.300",7.62mm);包裝為卷帶(TR);類別為集成電路(IC)的專用邏輯器件;產(chǎn)品描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS |
封裝外殼 | 24-DIP(0.300",7.62mm) |
文件大小 |
472.15 Kbytes |
頁(yè)面數(shù)量 |
26 頁(yè) |
生產(chǎn)廠商 | Texas Instruments |
企業(yè)簡(jiǎn)稱 |
TI【德州儀器】 |
中文名稱 | 美國(guó)德州儀器公司官網(wǎng) |
原廠標(biāo)識(shí) | ![]() |
數(shù)據(jù)手冊(cè) | |
更新時(shí)間 | 2025-7-21 9:02:00 |
人工找貨 | SN74BCT8244ANT價(jià)格和庫(kù)存,歡迎聯(lián)系客服免費(fèi)人工找貨 |
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更多產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品編號(hào):
SN74BCT8244ANT
- 制造商:
Texas Instruments
- 類別:
集成電路(IC) > 專用邏輯器件
- 系列:
74BCT
- 包裝:
卷帶(TR)
- 邏輯類型:
掃描測(cè)試設(shè)備,帶緩沖器
- 供電電壓:
4.5V ~ 5.5V
- 位數(shù):
8
- 工作溫度:
0°C ~ 70°C
- 安裝類型:
通孔
- 封裝/外殼:
24-DIP(0.300",7.62mm)
- 供應(yīng)商器件封裝:
24-PDIP
- 描述:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
供應(yīng)商 | 型號(hào) | 品牌 | 批號(hào) | 封裝 | 庫(kù)存 | 備注 | 價(jià)格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Texas Instruments |
24+ |
24-PDIP |
56200 |
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詢價(jià) | ||
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2025+ |
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詢價(jià) | ||
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6200 |
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